摘要　介绍聚酯薄膜生产中影响厚度公差的因素，测厚仪控制原理，以及消除影响厚度公差的因素的方法。　　关键词　BOPP聚酯薄膜　厚度公差　差动螺栓　测厚仪　半衰期    在聚酯薄膜生产中，薄膜公差的好坏直接影响薄膜的品质，所以，薄膜公差一直是薄膜制造商十分关注和力求改善的技术指标。然而，有时操作者尽了 很大努力，薄膜公差却难以达到理想的水平，本文就影响公差的因素，薄膜公差控制原理，调节方法等方面作一些探索。　　一、 薄膜公差控制原理    随着科学技术的发展，薄膜厚度测量手段也越来越多，在聚酯薄膜生产中，β射线测厚仪是一种比较常用的在线测厚仪，下面就采用β射线测厚仪进行厚度控制的原理作一介绍。　　1β射线测厚仪厚度测量原理    β射线测厚仪分为上、下二部分，下边部分为射源信号发射装置，根据被测薄膜的厚度，通常选择Kr85、Pm147等放射性元素作为射源，上半部分为射源信号接收装置，需要测试的薄膜位于测厚仪信号发射装置与接收装置之间，测厚仪开始检测薄膜厚度时，射源发射装置的快门打开，测厚仪发射装置发出的射源信号通过薄膜衰减后，由测厚仪信号接收装置接收，薄膜越厚，信号衰减越大，测厚仪接收装置接收到的信号，在接收装置内经过处理，转化为电信号输出，作为显示和控制用。　　2 厚度公差控制原理    在双向拉伸聚酯薄膜生产中，薄膜的厚度、公差，很大程度取决于铸片的形状，也就是说模头的口唇的形状，通常采用手动调节模头螺栓的方法对模头口唇的形状进行粗调，然后采用自动控制薄唇上差动螺栓加热功率的方式对模头口唇的形状进行精调。    由于原料从模头中出来，受其自身重力、铸片机的牵引力、原料从膜头出来的温度等因素的影响，从模头边缘出来的原半在铸片机上的厚度宽度变窄，即产生颈缩，其余部位宽度基本不变，在生产中，通常将有颈缩部分的膜作为废边切掉，使测厚仪测得的薄膜位置。可以与模头上的位置相对应。    薄膜厚度自动控制方式是在薄膜生产中，β射线测厚仪沿薄膜的宽度方向——与薄膜的运动方向相垂直来回移动，连续检测薄膜的厚度，系统将测得的厚度信号与设定的厚度信号相比较，然后输出一控制信号，控制相应模头上差动螺栓的加热功率，来改善膜唇的间隙，使所生产的薄膜尽量达到设定厚度。　　二、影响薄膜公差的因素　　常见的影响薄膜公差的因素有：　　1生产工艺发生变化　　2原料及配比发生变化　　3测厚仪受污染　　4测厚仪放射性元素的衰减　　5厚仪外部工况的影响　　6模头口唇间隙超出自动调节范围　　　三、消除影响薄膜公差因素的方法　　1当工艺发生变化时，如熔体的温度变化、生产线的速度变化等因素，都有可能造成薄膜颈缩的变化，使测厚仪测得的薄膜厚度信号与模头控制螺栓上的位置有偏差，所以，当工艺发生变化，或环境工况发生变化，薄膜公差有波动时，应做颈缩参数的校正。　　2原料及配比发生变化时，从测厚仪的工作原理可以知道，β射线测厚仪是通过测透过薄膜的射线衰减量来确认薄膜厚度的，当原材料配比发生变化时，对于同样厚度的薄膜，测厚仪测得的数据会有差异，这要求调节测厚仪的厚度测量校正系数，使测厚仪测得的数值与实际相符。　　3测厚仪发射装置、接收装置表面的薄膜受到污染，都会造成测厚仪测得的数据与实际有偏差，测厚仪表面的膜片受污染，可以用软纱布蘸酒精进行清洁。　　4由于测厚仪的放射源是一种放射性物质，每种放射源有着不同的半衰期，随着时间的推移，放射源的信号不断衰减，由于测厚仪射源信号衰减，造成测厚仪接收装置接收到的信号减小，产生测量误差。测厚仪射源衰减，可以通过调节射源信号放大倍数到标准值进行解决，当射源使用超过2个半衰期，射源发射的射线强度将降低至射源出厂时的25％，使用时应根据具体情况，确定是否更换射源。　　5测厚仪外部工况的影响    由于测厚仪在工作时，是在金属框架上来回移动对薄膜进行检测的，环境温度、框架变形都会对测厚仪的检测结果产生影响，定期做好测厚仪的零截面补偿和框架校正将有利于提高测厚仪的检测度。　　6模头口唇间隙超过自动调节范围　    在实际生产中，有时会出现无论用手动还是自动方式，薄膜公差怎么也调不到较好的状态，比较有效的薄膜公差改善方法是将薄膜螺栓控制复位(有时摩头螺栓已调到极限，不能继续调节，可先将模头螺栓松开到中间位置)，其具体做法是：　　·将模头加热螺栓的温度都设定在250℃；　　·在生产线运行状态，打开在线测厚仪，通过人工方式调节薄膜的公差，使薄膜公差的2σ值小于3％。　　·运行薄膜厚度自动控制模式，使薄膜厚度控制在较好的状态。